爲(wei)了提(ti)升手(shou)機産(chan)品可(ke)靠性(xing)能力(li),各個(ge)企業(ye)投入(ru)了巨(ju)大的(de)努力(li),從産(chan)品設(she)計開(kai)發到(dao)生産(chan)各個(ge)環節(jie),都在(zai)緻力(li)于提(ti)高🥰産(chan)品可(ke)靠👨❤️👨性(xing)。
了解(jie)了産(chan)品的(de)一般(ban)結構(gou)之後(hou),在開(kai)始結(jie)構設(she)計之(zhi)前🌂,需(xu)要清(qing)楚地(di)知道(dao)産品(pin)要達(da)到上(shang)市的(de)要求(qiu)需要(yao)通過(guo)🔴哪些(xie)測試(shi),達到(dao)👉什麽(me)樣的(de)标準(zhun)。
産品(pin)可靠(kao)性測(ce)試 (PRT) 的(de)目的(de)是在(zai)特定(ding)的可(ke)接受(shou)的環(huan)境下(xia)不斷(duan)的催(cui)化産(chan)🐅品的(de)❓壽命(ming)和疲(pi)勞度(du),可以(yi)在早(zao)期預(yu)測和(he)評估(gu)産品(pin)的質(zhi)量和(he)可靠(kao)性。産(chan)品結(jie)構設(she)計工(gong)程師(shi)必須(xu)通曉(xiao)可靠(kao)性測(ce)試的(de)所有(you)标準(zhun),在設(she)計階(jie)段就(jiu)必須(xu)采取(qu)正确(que)的💃設(she)計和(he)選擇(ze)合适(shi)的材(cai)料來(lai)避免(mian)後續(xu)産品(pin)的質(zhi)量和(he)可 靠(kao)性問(wen)題。産(chan)品必(bi)須經(jing)過國(guo)家的(de)可靠(kao)性測(ce)試,而(er)且越(yue)來越(yue)嚴格(ge)⭐,要求(qiu)也越(yue)來越(yue)高,這(zhe)就對(dui)我們(men)的設(she)計提(ti)出☁️了(le)更高(gao)的要(yao)求。
首(shou)先了(le)解一(yi)下可(ke)靠性(xing)影響(xiang)因素(su) , 影響(xiang)産品(pin)可靠(kao)性的(de)極其(qi)重要(yao)的因(yin)素是(shi)環境(jing)。
環境(jing)因素(su)多種(zhong)多樣(yang):溫度(du)、濕度(du)、壓力(li)、輻射(she)、降雨(yu)、風、雷(lei)、電、鹽(yan)霧、砂(sha)📱塵、振(zhen)動、沖(chong)擊、噪(zao)聲、電(dian)磁輻(fu)射等(deng),都不(bu)可避(bi)✨免地(di)對電(dian)子産(chan)品産(chan)生不(bu)良影(ying)響。有(you)資料(liao)顯示(shi),電子(zi)🌐産品(pin)故障(zhang)的 52% 失(shi)效是(shi)由環(huan)境效(xiao)應引(yin)起:其(qi)中由(you)溫度(du)引起(qi)的占(zhan) 40% ,由振(zhen)動引(yin)起的(de)占 27% ,由(you)濕度(du)引起(qi)的占(zhan) 19% ,其餘(yu) 14% 是砂(sha)塵、鹽(yan)霧等(deng)因素(su)引發(fa)的故(gu)障。環(huan)境試(shi)驗作(zuo)爲可(ke)靠性(xing)試驗(yan)的一(yi)種類(lei)型已(yi)經發(fa)展成(cheng)爲一(yi)種預(yu)測産(chan)品使(shi)用環(huan)❄️境是(shi)如何(he)影響(xiang)産品(pin)的性(xing)能和(he)功能(neng)的方(fang)法。
在(zai)手機(ji)投入(ru)市場(chang)之前(qian),環境(jing)試驗(yan)被用(yong)來評(ping)估環(huan)境影(ying)響手(shou)機的(de)程度(du),當手(shou)機的(de)功能(neng)受到(dao)了影(ying)響,環(huan)境試(shi)驗🈚被(bei)用來(lai)查明(ming)原因(yin),并㊙️采(cai)取措(cuo)施保(bao)護手(shou)機免(mian)受環(huan)境影(ying)響以(yi)保🧑🏽🤝🧑🏻護(hu)手機(ji)😍的可(ke)靠性(xing),環境(jing)試驗(yan)也被(bei)用來(lai)分析(xi)手⭐機(ji)在實(shi)際使(shi)用過(guo)程中(zhong)出現(xian)的缺(que)陷以(yi)及新(xin)産品(pin)的改(gai)🌈進。
嚴(yan)格意(yi)義上(shang)講,隻(zhi)有通(tong)過了(le)環境(jing)适應(ying)性試(shi)驗,滿(man)足規(gui)🚶定的(de)條件(jian),才能(neng)進行(hang)可靠(kao)性試(shi)驗,環(huan)境适(shi)應性(xing)試驗(yan)對于(yu)保證(zheng)手機(ji)的可(ke)靠性(xing)是非(fei)常有(you)效的(de)。 手機(ji)環境(jing)與可(ke)靠性(xing)測試(shi)包括(kuo)六個(ge)部分(fen):加速(su)壽命(ming)測👌試(shi)、氣候(hou)适應(ying)測試(shi)、結構(gou)耐久(jiu)測試(shi)、表面(mian)裝飾(shi)測試(shi)、特殊(shu)條件(jian)💃🏻測試(shi),及其(qi)他條(tiao)🔞件測(ce)試。
1.1.
加(jia)速壽(shou)命測(ce)試
ALT (AcceleratedLife Test)
樣(yang)機标(biao)準數(shu)量:
PR1
:
8
台(tai)
PR2
:
10
台
PR3
:
10
台(tai)
PIR
:
10
台
試(shi)驗周(zhou)期:
11-26
天(tian)
測試(shi)目的(de):
通過(guo)連續(xu)的施(shi)加各(ge)種測(ce)試條(tiao)件,加(jia)速産(chan)品的(de)失效(xiao),提前(qian)暴露(lu)潛在(zai)問題(ti)。
試驗(yan)流程(cheng):
其中(zhong)
Thermal Shock
和
1st Drop
測(ce)試的(de)時間(jian)間隔(ge)應不(bu)超過(guo)
4
小時(shi)
;Temp/Humidity
和
2nd Drop
測(ce)試的(de)時間(jian)間隔(ge)應不(bu)超過(guo)
4
小時(shi)。每項(xiang)測試(shi)完成(cheng)都應(ying)進行(hang)表面(mian),外觀(guan),結構(gou)和功(gong)🐉能檢(jian)查。
測(ce)試标(biao)準:參(can)數指(zhi)标正(zheng)常,功(gong)能正(zheng)常。
1.1.1
室(shi)溫下(xia)參數(shu)測試(shi)
(ParametricTest)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):
測試(shi)預檢(jian)查
測(ce)試方(fang)法:使(shi)用
8960/8922
測(ce)試儀(yi),對所(suo)有樣(yang)品進(jin)行參(can)數指(zhi)标預(yu)測試(shi)并保(bao)存測(ce)試結(jie)果。
測(ce)試标(biao)準:參(can)數指(zhi)标正(zheng)常,功(gong)能正(zheng)常。
1.1.2
溫(wen)度沖(chong)擊測(ce)試
(Thermal Shock)
測(ce)試環(huan)境:低(di)溫箱(xiang):
-30
°
C ;
高溫(wen)箱:
+10
°
C
測(ce)試目(mu)的:通(tong)過高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)進行(hang)樣品(pin)應力(li)篩選(xuan)
試驗(yan)方法(fa):使用(yong)高低(di)溫沖(chong)擊箱(xiang),手機(ji)帶電(dian)池,設(she)置成(cheng)關機(ji)🔱狀态(tai)先放(fang)置于(yu)高溫(wen)箱内(nei)持續(xu)
45
分鍾(zhong)後,在(zai)
15
秒内(nei)迅速(su)移入(ru)低溫(wen)箱并(bing)持續(xu)
45
分鍾(zhong)後,再(zai)
15
秒内(nei)迅速(su)回到(dao)高溫(wen)箱。此(ci)爲一(yi)個循(xun)環,共(gong)循環(huan)
21
次。實(shi)驗結(jie)束後(hou)将樣(yang)機從(cong)溫度(du)沖擊(ji)箱
(
高(gao)溫箱(xiang)
)
中取(qu)出,恢(hui)複
2
小(xiao)時後(hou)進行(hang)外
觀(guan)、機械(xie)和電(dian)性能(neng)檢查(cha)。對于(yu)翻蓋(gai)手機(ji),應将(jiang)一半(ban)樣品(pin)♍打開(kai)翻蓋(gai)🤟
;
對于(yu)滑蓋(gai)手機(ji),應将(jiang)一半(ban)樣品(pin)滑開(kai)到上(shang)限位(wei)置。
試(shi)驗标(biao)準:手(shou)機表(biao)面噴(pen)塗無(wu)異變(bian),結構(gou)無異(yi)常,功(gong)能🏃🏻♂️正(zheng)常,可(ke)正常(chang)撥打(da)電話(hua)。
1.1.3
跌落(luo)試驗(yan)
(Drop Test)
測試(shi)條件(jian):
1.5m
高度(du),
20mm
厚大(da)理石(shi)地闆(pan)。
(
對于(yu)
PDA
手機(ji)
,
根據(ju)所屬(shu)公司(si)質量(liang)部門(men)的建(jian)議可(ke)調整(zheng)爲跌(die)落高(gao)度爲(wei)
1.3m)
測試(shi)目的(de):
跌落(luo)沖擊(ji)試驗(yan)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機處(chu)于開(kai)機狀(zhuang)态進(jin)行跌(die)落。對(dui)于直(zhi)🔞握手(shou)機🌈,進(jin)🤟行
6
個(ge)面的(de)自由(you)跌落(luo)實驗(yan),每個(ge)面的(de)跌落(luo)次數(shu)爲
1
次(ci),每個(ge)面跌(die)落之(zhi)後進(jin)行外(wai)觀、結(jie)構和(he)功能(neng)檢查(cha)。對于(yu)翻蓋(gai)手機(ji),進行(hang)
8
個面(mian)的自(zi)由跌(die)落實(shi)驗
;
其(qi)中一(yi)半樣(yang)品合(he)上翻(fan)蓋按(an)直握(wo)手機(ji)的方(fang)法進(jin)行跌(die)落,另(ling)一半(ban)樣
品(pin)在跌(die)正面(mian)和背(bei)面時(shi)須打(da)開翻(fan)蓋
;
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。跌落(luo)結束(shu)💞後對(dui)外觀(guan)、結構(gou)和功(gong)能進(jin)行檢(jian)查。
試(shi)驗标(biao)準:手(shou)機外(wai)觀,結(jie)構和(he)功能(neng)符合(he)要求(qiu)。
1.1.4
振動(dong)試驗(yan)
(Vibration Test)
測試(shi)條件(jian):振幅(fu):
0.38mm/
振頻(pin):
10~30Hz;
振幅(fu):
0.19mm/
振頻(pin):
30~55Hz;
測試(shi)目的(de):
測試(shi)樣機(ji)抗振(zhen)性能(neng)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機開(kai)機放(fang)入振(zhen)動箱(xiang)内固(gu)定夾(jia)緊。啓(qi)動振(zhen)動台(tai)按
X
、
Y
、
Z
三(san)個軸(zhou)向分(fen)别振(zhen)動
1
個(ge)小時(shi),每個(ge)軸振(zhen)完之(zhi)後取(qu)出進(jin)行外(wai)觀、結(jie)構和(he)功能(neng)🈲檢💘查(cha)。三個(ge)😘軸向(xiang)振動(dong)試驗(yan)結束(shu)後,對(dui)樣機(ji)進行(hang)參數(shu)測試(shi)。
試驗(yan)标準(zhun):振動(dong)後手(shou)機内(nei)存和(he)設置(zhi)沒有(you)丢失(shi)現象(xiang),手機(ji)外觀(guan),結構(gou)和功(gong)能符(fu)合要(yao)求,參(can)數測(ce)試正(zheng)常,晃(huang)動無(wu)異響(xiang)。
1.1.5
濕熱(re)試驗(yan)
(Humidity Test)
測試(shi)環境(jing):
60
°
C
,
95%RH
測試(shi)目的(de):
測試(shi)樣機(ji)耐高(gao)溫高(gao)濕性(xing)能
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)處于(yu)關機(ji)狀态(tai),放入(ru)溫濕(shi)度實(shi)驗✌️箱(xiang)内🙇♀️的(de)架♋子(zi)上,持(chi)續
60
個(ge)小時(shi)之後(hou)取出(chu),常溫(wen)恢複(fu)
2
小時(shi),然後(hou)進行(hang)外觀(guan)、結構(gou)和功(gong)能檢(jian)查。對(dui)于翻(fan)蓋手(shou)機,應(ying)将🈲一(yi)半樣(yang)品合(he)上翻(fan)蓋,一(yi)半樣(yang)品打(da)開翻(fan)蓋
;
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)外觀(guan),結構(gou)和功(gong)能符(fu)合要(yao)求。
1.1.6
靜(jing)電測(ce)試
(ESD)
測(ce)試條(tiao)件:
+/-4kV~+/-8kV
。
測(ce)試目(mu)的:
測(ce)試樣(yang)機抗(kang)靜電(dian)幹擾(rao)性能(neng)
試驗(yan)方法(fa):
将樣(yang)機設(she)置爲(wei)開機(ji)狀态(tai),檢查(cha)樣機(ji)内存(cun)和功(gong)能。
(
内(nei)存
10
條(tiao)短信(xin)息和(he)
10
個電(dian)話号(hao)碼
;
使(shi)用功(gong)能正(zheng)常
)
。将(jiang)樣機(ji)放于(yu)靜電(dian)測試(shi)台的(de)絕緣(yuan)墊上(shang),并且(qie)用充(chong)電器(qi)🙇🏻加電(dian)使手(shou)🔞機處(chu)于充(chong)電狀(zhuang)态
(
樣(yang)機與(yu)絕緣(yuan)墊邊(bian)緣距(ju)離至(zhi)少
2
英(ying)寸
;
兩(liang)個樣(yang)機之(zhi)間的(de)距離(li)也是(shi)至少(shao)
2
英寸(cun)
)
。
打開(kai)靜電(dian)模拟(ni)器,調(diao)節放(fang)電方(fang)式,分(fen)别選(xuan)擇
+/-4kV(
接(jie)觸放(fang)電
)
,
~+/-8kV(
空(kong)氣放(fang)電
)
,對(dui)手機(ji)指定(ding)部位(wei)連續(xu)放電(dian)
10
次,并(bing)對地(di)放電(dian)。每做(zuo)完一(yi)個部(bu)位的(de)測試(shi),檢查(cha)手機(ji)功能(neng)、信❗号(hao)和靈(ling)敏度(du),并觀(guan)察手(shou)機在(zai)測試(shi)過程(cheng)中有(you)無死(si)機,通(tong)🌈信鏈(lian)路中(zhong)斷,
LCD
顯(xian)示異(yi)常,自(zi)動關(guan)機
及(ji)其他(ta)異常(chang)現象(xiang)。
樣機(ji)需在(zai)與
8922
測(ce)試儀(yi)建立(li)起呼(hu)叫連(lian)接的(de)狀态(tai)下進(jin)行各(ge)個放(fang)電方(fang)式🌐、級(ji)别🧑🏽🤝🧑🏻和(he)極性(xing)的測(ce)試。
試(shi)驗标(biao)準:在(zai)
+/-4Kv
和
+/-8Kv
時(shi)出現(xian)任何(he)問題(ti)都要(yao)被計(ji)爲故(gu)障。
備(bei)注:靜(jing)電釋(shi)放位(wei)置的(de)确定(ding)要依(yi)據産(chan)品的(de)具體(ti)情況(kuang)進行(hang)定義(yi)。
1.2.
氣候(hou)适應(ying)性測(ce)試
(ClimaticStress Test)
樣(yang)品标(biao)準數(shu)量:一(yi)般氣(qi)候性(xing)測試(shi)
4
台
;
惡(e)劣氣(qi)候性(xing)測試(shi)
2
台。共(gong)
8
台。
測(ce)試周(zhou)期:
1
天(tian)。
測試(shi)目的(de):
模拟(ni)實際(ji)工作(zuo)環境(jing)對産(chan)品進(jin)行性(xing)能測(ce)試
一(yi)般氣(qi)候性(xing)測試(shi)
惡劣(lie)氣候(hou)性測(ce)試
A
:
一(yi)般氣(qi)候性(xing)測試(shi):
1.2.1.
高溫(wen)
/
低溫(wen)參數(shu)測試(shi)
(ParametricTest)
測試(shi)環境(jing):
-10
°
C /+55
°
C
測試(shi)目的(de):高溫(wen)
/
低溫(wen)應用(yong)性性(xing)能測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)電池(chi)充滿(man)電,手(shou)機處(chu)于開(kai)機狀(zhuang)态,放(fang)👨❤️👨入溫(wen)度實(shi)⛷️驗箱(xiang)内的(de)架子(zi)上,調(diao)節溫(wen)度控(kong)制器(qi)到⛹🏻♀️
-10
°
C /+55
°
C
。持(chi)續
2
個(ge)小時(shi)之後(hou)在此(ci)環境(jing)下進(jin)行電(dian)性能(neng)參數(shu)和功(gong)能❌檢(jian)查🐆。對(dui)于翻(fan)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品合(he)上翻(fan)蓋,一(yi)半樣(yang)品🔱打(da)開翻(fan)蓋
;
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)電性(xing)能參(can)數指(zhi)标滿(man)足要(yao)求,功(gong)能正(zheng)🌐常,外(wai)殼無(wu)變🎯形(xing)。
測試(shi)環境(jing):
+45
°
C
,
95%RH
測試(shi)目的(de):高溫(wen)高濕(shi)應用(yong)性性(xing)能測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)電池(chi)充滿(man)電,手(shou)機處(chu)于開(kai)機狀(zhuang)态,放(fang)⛷️入溫(wen)度實(shi)驗箱(xiang)内的(de)架子(zi)上。持(chi)續
48
個(ge)小時(shi)之後(hou),然後(hou)在此(ci)環境(jing)下進(jin)行電(dian)性能(neng)檢查(cha),檢🆚查(cha)項💛目(mu)見附(fu)表
1
。對(dui)于翻(fan)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品合(he)上翻(fan)蓋,一(yi)半樣(yang)品打(da)開翻(fan)蓋
;
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)電性(xing)能指(zhi)标滿(man)足要(yao)求,功(gong)能正(zheng)常,外(wai)🌐殼無(wu)變形(xing)。
1.2.3.
高溫(wen)
/
低溫(wen)功能(neng)測試(shi)
(FunctionalTest)
測試(shi)環境(jing):
-40
°
C /+10
°
C
測試(shi)目的(de):高溫(wen)
/
低溫(wen)應用(yong)性功(gong)能測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)處于(yu)關機(ji)狀态(tai),放入(ru)溫度(du)實驗(yan)箱内(nei)的⚽架(jia)📞子上(shang)♻️。持續(xu)
24
個小(xiao)時之(zhi)後,取(qu)出,并(bing)放置(zhi)
2
小時(shi),恢複(fu)至常(chang)溫,然(ran)後進(jin)行結(jie)構,功(gong)能和(he)電性(xing)能檢(jian)查。對(dui)🐆于翻(fan)🏒蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品合(he)上翻(fan)蓋,一(yi)半樣(yang)✍️品打(da)開翻(fan)💜蓋
;
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)電性(xing)能指(zhi)标滿(man)足要(yao)求,功(gong)能正(zheng)常,外(wai)殼✨無(wu)變形(xing)。
B
:惡劣(lie)氣候(hou)性測(ce)試
1.2.4.
灰(hui)塵測(ce)試
(Dust Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
測(ce)試目(mu)的:測(ce)試樣(yang)機結(jie)構密(mi)閉性(xing)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機關(guan)機放(fang)入灰(hui)塵實(shi)驗箱(xiang)内。灰(hui)塵大(da)小
300
目(mu),持續(xu)
3
個小(xiao)時之(zhi)後,将(jiang)手機(ji)從實(shi)驗箱(xiang)中取(qu)出,用(yong)棉布(bu)和離(li)子風(feng)槍清(qing)潔後(hou)進行(hang)檢查(cha)。對于(yu)翻蓋(gai)手機(ji),應将(jiang)一半(ban)樣品(pin)合上(shang)翻蓋(gai),一半(ban)㊙️樣品(pin)打開(kai)翻蓋(gai)
;
對于(yu)滑蓋(gai)手機(ji),應将(jiang)一半(ban)樣品(pin)滑開(kai)到上(shang)限位(wei)置。
試(shi)驗标(biao)準:手(shou)機各(ge)項功(gong)能正(zheng)常,所(suo)有活(huo)動元(yuan)器件(jian)運轉(zhuan)自如(ru),顯🤞示(shi)🙇♀️區域(yu)沒有(you)明顯(xian)灰塵(chen)。
1.2.5.
鹽霧(wu)測試(shi)
(Salt fog Test)
測試(shi)環境(jing):
35
°
C
測試(shi)目的(de):測試(shi)樣機(ji)抗鹽(yan)霧腐(fu)蝕能(neng)力
試(shi)驗方(fang)法:
溶(rong)液含(han)量:
5%
的(de)氯化(hua)鈉溶(rong)液。
将(jiang)手機(ji)關機(ji)放在(zai)鹽霧(wu)試驗(yan)箱内(nei),合上(shang)翻蓋(gai),樣機(ji)用繩(sheng)🙇🏻子懸(xuan)挂起(qi)🍓來,以(yi)免溶(rong)液噴(pen)灑不(bu)均或(huo)有的(de)表面(mian)噴不(bu)到。
樣(yang)機需(xu)要立(li)即被(bei)放入(ru)測試(shi)箱。實(shi)驗周(zhou)期是(shi)
48
個小(xiao)時。實(shi)驗過(guo)程中(zhong)樣機(ji)不得(de)被中(zhong)途取(qu)出,如(ru)果急(ji)需取(qu)出⛷️測(ce)試,要(yao)嚴格(ge)記錄(lu)測試(shi)時間(jian),該實(shi)驗需(xu)向後(hou)延遲(chi)🏃🏻相同(tong)🐆時間(jian)🔅。
取出(chu)樣機(ji)後,用(yong)棉布(bu)和離(li)子風(feng)槍清(qing)潔,放(fang)置
48
小(xiao)時進(jin)行常(chang)溫幹(gan)燥後(hou),對其(qi)進行(hang)外觀(guan)、機械(xie)和電(dian)性能(neng)🔴檢查(cha)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)各項(xiang)功能(neng)正常(chang),外殼(ke)表面(mian)及裝(zhuang)飾件(jian)無明(ming)顯腐(fu)🐪蝕等(deng)異常(chang)現象(xiang)。
1.3.
結構(gou)耐久(jiu)測試(shi)
(MechanicalEndurance Test)
樣品(pin)标準(zhun)數量(liang):
11
台。
測(ce)試周(zhou)期:
1
天(tian)。
測試(shi)流程(cheng):
測試(shi)标準(zhun):
1.3.1.
按鍵(jian)測試(shi)
(Keypad Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):按鍵(jian)壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
2
台手(shou)機。
測(ce)試方(fang)法:将(jiang)手機(ji)設置(zhi)成關(guan)機狀(zhuang)态固(gu)定在(zai)測試(shi)夾具(ju)上,導(dao)航鍵(jian)及其(qi)他任(ren)意鍵(jian)進行(hang)
10
萬次(ci)按壓(ya)按鍵(jian)測試(shi)。進行(hang)到
3
萬(wan)次、
5
萬(wan)次、
8
萬(wan)次、
10
萬(wan)次時(shi)各檢(jian)查手(shou)機按(an)鍵彈(dan)性及(ji)功能(neng)一次(ci)。實驗(yan)中被(bei)測試(shi)的鍵(jian)的選(xuan)擇根(gen)據不(bu)同機(ji)型進(jin)行确(que)定并(bing)參考(kao)工程(cheng)師的(de)建議(yi),應💁盡(jin)量💘不(bu)重複(fu),盡可(ke)能多(duo)。
試驗(yan)标準(zhun):手機(ji)按鍵(jian)彈性(xing)及功(gong)能正(zheng)常。
1.3.2.
側(ce)鍵測(ce)試
(Side Key Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:側(ce)鍵壽(shou)命測(ce)試
測(ce)試數(shu)量:
1
台(tai)手機(ji)
測試(shi)方法(fa):将手(shou)機設(she)置成(cheng)關機(ji)狀态(tai)固定(ding)在測(ce)試夾(jia)具上(shang),對側(ce)⭕鍵進(jin)行
10
萬(wan)次按(an)壓按(an)鍵測(ce)試。進(jin)行到(dao)
3
萬次(ci)、
5
萬次(ci)、
8
萬次(ci)、
10
萬次(ci)時各(ge)檢查(cha)手機(ji)按鍵(jian)彈性(xing)及功(gong)能一(yi)次。
試(shi)驗标(biao)準:手(shou)機按(an)鍵彈(dan)性及(ji)功能(neng)正常(chang)。
1.3.3.
翻蓋(gai)測試(shi)
(Flip Life Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):翻蓋(gai)壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
4
台手(shou)機。
測(ce)試方(fang)法:将(jiang)手機(ji)設置(zhi)成開(kai)機狀(zhuang)态,固(gu)定在(zai)測試(shi)夾具(ju)❗上,進(jin)行
5
萬(wan)次開(kai)合翻(fan)蓋測(ce)試。進(jin)行到(dao)
3
萬次(ci)、
4
萬次(ci)、
4. 5
萬次(ci)
、
5
萬次(ci)時進(jin)行手(shou)機翻(fan)蓋彈(dan)性及(ji)功能(neng)一次(ci)。
試驗(yan)标準(zhun):
5
萬次(ci)後,手(shou)機外(wai)觀,結(jie)構,及(ji)功能(neng)正常(chang)。
1.3.4.
滑蓋(gai)測試(shi)
(Slide LifeTest)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):滑蓋(gai)壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
4
台手(shou)機。
測(ce)試方(fang)法:将(jiang)手機(ji)設置(zhi)成開(kai)機狀(zhuang)态,固(gu)定在(zai)測試(shi)夾具(ju)上💘,進(jin)行
5
萬(wan)次滑(hua)蓋測(ce)試。進(jin)行到(dao)
3
萬次(ci)、
4
萬次(ci)、
4. 5
萬次(ci)
、
5
萬次(ci)時進(jin)行手(shou)機滑(hua)蓋手(shou)感及(ji)功能(neng)一次(ci)。
試驗(yan)标準(zhun):
5
萬次(ci)後,手(shou)機外(wai)觀,結(jie)構,及(ji)功能(neng)正常(chang)
,
滑蓋(gai)不能(neng)有松(song)動
(
建(jian)議
:
垂(chui)直手(shou)機時(shi)不能(neng)有自(zi)動下(xia)滑的(de)現象(xiang)
)
1.3.5.
重複(fu)跌落(luo)測試(shi)
(Micro-DropTest)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);1cm
高度(du)
,20mmPVC
闆
測(ce)試目(mu)的:樣(yang)機跌(die)落疲(pi)勞測(ce)試
測(ce)試數(shu)量:
2
台(tai)。
測試(shi)方法(fa):手機(ji)處于(yu)開機(ji)狀态(tai),做手(shou)機正(zheng)面及(ji)背面(mian)的🌈重(zhong)複跌(die)落實(shi)驗,每(mei)個面(mian)的跌(die)落次(ci)數爲(wei)
20,000
次。進(jin)行到(dao)
1
萬次(ci)、
1.5
萬次(ci)、
1.8
萬次(ci)、
2
萬次(ci)時各(ge)檢查(cha)對手(shou)機進(jin)行外(wai)觀、機(ji)械和(he)電性(xing)能的(de)🌈中間(jian)檢查(cha)。
測試(shi)标準(zhun):手機(ji)各項(xiang)功能(neng)正常(chang),外殼(ke)無變(bian)形、破(po)裂、掉(diao)漆🈲,顯(xian)示屏(ping)無✨破(po)碎,晃(huang)動無(wu)異響(xiang)。
1.3.6.
充電(dian)器插(cha)拔測(ce)試
(Charger Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:充(chong)電器(qi)插拔(ba)
]
壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
2
台手(shou)機。
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)充電(dian)器接(jie)上電(dian)源,連(lian)接手(shou)機充(chong)電接(jie)口,等(deng)㊙️待手(shou)🛀機至(zhi)充電(dian)界面(mian)顯示(shi)正常(chang)後,拔(ba)除充(chong)電插(cha)頭。在(zai)開機(ji)不插(cha)卡狀(zhuang)态下(xia)插🌈拔(ba)充電(dian)
3000
次。進(jin)行到(dao)
2000
次、
2500
次(ci)和
3000
次(ci)時進(jin)行中(zhong)間
/
結(jie)束檢(jian)查一(yi)次。
檢(jian)驗标(biao)準:
I/O
接(jie)口無(wu)損壞(huai),焊盤(pan)無脫(tuo)落,充(chong)電功(gong)能正(zheng)常。無(wu)異常(chang)手感(gan)。
1.3.7.
筆插(cha)拔測(ce)試
(Stylus Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:手(shou)機手(shou)寫筆(bi)插拔(ba)壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
2
台手(shou)機。
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)處于(yu)開機(ji)狀态(tai),筆插(cha)在手(shou)機筆(bi)插孔(kong)内,然(ran)後拔(ba)出,反(fan)複
20
,
000
次(ci)。進行(hang)到
1
萬(wan)次、
1
萬(wan)
5
千次(ci)、
1
萬
8
千(qian)次、
2
萬(wan)次時(shi)檢查(cha)手機(ji)筆插(cha)入拔(ba)出結(jie)構功(gong)能、外(wai)殼及(ji)筆是(shi)否正(zheng)常。
檢(jian)驗标(biao)準:手(shou)機筆(bi)輸入(ru)功能(neng)正常(chang),插入(ru)拔出(chu)結構(gou)功能(neng)、外殼(ke)及筆(bi)♋均正(zheng)常。
1.3.8
點(dian)擊試(shi)驗
(PointActivation Life Test)
試(shi)驗條(tiao)件:觸(chu)摸屏(ping)測試(shi)儀
(
接(jie)觸墊(nian)尖端(duan)半徑(jing)爲
3.15mm;
硬(ying)度爲(wei)
40deg
的矽(xi)樹脂(zhi)橡膠(jiao)
)
測試(shi)目的(de):觸摸(mo)屏點(dian)擊壽(shou)命測(ce)試
樣(yang)品數(shu)量:
1
台(tai)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機設(she)置爲(wei)開機(ji)狀态(tai),點擊(ji)
LCD
的中(zhong)心位(wei)置
250,000
次(ci),點擊(ji)力度(du)爲
250g;
點(dian)擊速(su)度:
2
次(ci)
/
秒
;
檢(jian)驗标(biao)準:不(bu)應出(chu)現電(dian)性能(neng)不良(liang)現象(xiang)
;
表面(mian)不應(ying)有損(sun)傷
1.3.9
劃(hua)線試(shi)驗
(Lineation LifeTest)
試(shi)驗條(tiao)件:觸(chu)摸屏(ping)測試(shi)儀,直(zhi)徑爲(wei)
0.8mm
的塑(su)料手(shou)寫筆(bi)或随(sui)機附(fu)帶的(de)手寫(xie)筆
測(ce)試目(mu)的:觸(chu)摸屏(ping)劃線(xian)疲勞(lao)測試(shi)
樣品(pin)數量(liang):
1
台
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)設置(zhi)爲關(guan)機狀(zhuang)态,在(zai)同一(yi)位置(zhi)劃線(xian)至少(shao)
100,000
次,力(li)度爲(wei)
250g;
滑行(hang)速度(du):
60mm/
秒
檢(jian)驗标(biao)準:不(bu)應出(chu)現電(dian)性能(neng)不良(liang)現象(xiang)
;
表面(mian)不應(ying)有損(sun)傷
1.3.10.
電(dian)池
/
電(dian)池蓋(gai)拆裝(zhuang)測試(shi)
(Battery/BatteryCover Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):電池(chi)
/
電池(chi)蓋拆(chai)裝壽(shou)命測(ce)試
測(ce)試數(shu)量:
2
台(tai)。
試驗(yan)方法(fa):将電(dian)池
/
電(dian)池蓋(gai)反複(fu)拆裝(zhuang)
2000
次。進(jin)行到(dao)
1500
次、
1800
次(ci)和
2000
次(ci)時檢(jian)查手(shou)機及(ji)電池(chi)
/
電池(chi)蓋各(ge)項功(gong)能、及(ji)外觀(guan)是否(fou)正常(chang)。
檢驗(yan)标準(zhun):手機(ji)及電(dian)池卡(ka)扣功(gong)能正(zheng)常無(wu)變形(xing),電池(chi)觸片(pian)🌈、電📞池(chi)連接(jie)器應(ying)無下(xia)陷、變(bian)形及(ji)磨損(sun)的現(xian)象,外(wai)觀無(wu)異常(chang)。
1.3.11. SIM Card
拆裝(zhuang)測試(shi)
(SIM Card Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):
SIM
卡拆(chai)裝壽(shou)命測(ce)試
測(ce)試數(shu)量:
2
台(tai)手機(ji)。
試驗(yan)方法(fa):插上(shang)
SIM
卡,然(ran)後取(qu)下
SIM
卡(ka),再重(zhong)新裝(zhuang)上,反(fan)複
1000
次(ci),每插(cha)拔
100
次(ci)檢查(cha)開機(ji)是否(fou)正常(chang),讀卡(ka)信息(xi)正常(chang)。
檢驗(yan)标準(zhun):
SIM
卡觸(chu)片、
SIM
卡(ka)推扭(niu)開關(guan)正常(chang),手機(ji)讀卡(ka)功能(neng)使用(yong)正常(chang)。
1.3.12.
耳機(ji)插拔(ba)測試(shi)
(Headset Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):耳機(ji)插拔(ba)壽命(ming)測試(shi)
測試(shi)數量(liang):
2
台手(shou)機。
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)處于(yu)開機(ji)狀态(tai),耳機(ji)插在(zai)耳機(ji)插🧡孔(kong)内,然(ran)後拔(ba)出,反(fan)複
3000
次(ci)。進行(hang)到
2000
、
2500
次(ci)和
3000
次(ci)時各(ge)檢查(cha)一次(ci)。
檢驗(yan)标準(zhun):實驗(yan)後檢(jian)查耳(er)機插(cha)座無(wu)焊接(jie)故障(zhang),耳機(ji)插頭(tou)無損(sun)傷,使(shi)用耳(er)機通(tong)話接(jie)收與(yu)送話(hua)無雜(za)音
(
通(tong)話過(guo)程中(zhong)轉動(dong)耳機(ji)插頭(tou)
)
,耳機(ji)插入(ru)手機(ji)耳機(ji)插孔(kong)時不(bu)會松(song)動
(
可(ke)以承(cheng)受得(de)住手(shou)機本(ben)身的(de)重量(liang)
)
。
1.3.13.
導線(xian)連接(jie)強度(du)試驗(yan)
(Cable PullingEndurance Test--Draft)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):導線(xian)連接(jie)強度(du)測試(shi)
實驗(yan)方法(fa):選取(qu)靠近(jin)耳塞(sai)的一(yi)段導(dao)線,将(jiang)其兩(liang)端固(gu)❤️定在(zai)實驗(yan)💃機上(shang),用
10N
±
1N
的(de)力度(du)持續(xu)拉伸(shen)
6
秒,循(xun)環
100
次(ci)。
(
其它(ta)造型(xing)的導(dao)線可(ke)采納(na)工程(cheng)師的(de)建議(yi)來确(que)定循(xun)環次(ci)數
)
檢(jian)驗标(biao)準:導(dao)線功(gong)能正(zheng)常。被(bei)覆外(wai)皮不(bu)破裂(lie),變形(xing)。
1.3.14.
導線(xian)折彎(wan)強度(du)試驗(yan)
(Cable BendingEndurance Test--Draft)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):導線(xian)折彎(wan)疲勞(lao)測試(shi)
實驗(yan)方法(fa):分别(bie)選取(qu)靠近(jin)耳塞(sai)和靠(kao)近插(cha)頭的(de)一段(duan)導線(xian),将導(dao)線的(de)兩端(duan)固定(ding)在實(shi)驗機(ji)上,做(zuo)
0mm~25mm
做折(she)彎實(shi)驗
3000
次(ci)。
(
其它(ta)造型(xing)的導(dao)線可(ke)采納(na)工程(cheng)師的(de)建議(yi)來确(que)定循(xun)環次(ci)數
)
檢(jian)驗标(biao)準:導(dao)線功(gong)能正(zheng)常被(bei)覆外(wai)皮不(bu)破裂(lie),變形(xing)。
1.3.15.
導線(xian)擺動(dong)疲勞(lao)試驗(yan)
(Cable SwingEndurance Test--Draft)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
測試(shi)目的(de):導線(xian)擺動(dong)疲勞(lao)測試(shi)
實驗(yan)方法(fa)
:
分别(bie)将耳(er)機和(he)插頭(tou)固定(ding)在實(shi)驗機(ji)上,用(yong)
1N
的力(li),
以
180
°的(de)角度(du)反複(fu)擺動(dong)耳機(ji)末端(duan)
3000
次。
(
其(qi)它造(zao)型的(de)導線(xian)可采(cai)納工(gong)程師(shi)的建(jian)議來(lai)确定(ding)循環(huan)次數(shu)🐪
)
檢驗(yan)标準(zhun):導線(xian)功能(neng)正常(chang)被覆(fu)外皮(pi)不破(po)裂。
1.4
表(biao)面裝(zhuang)飾測(ce)試
(DecorativeSurface Test)
測(ce)試周(zhou)期:
4
天(tian)。
樣品(pin)标準(zhun)數量(liang):每種(zhong)顔色(se)
6
套外(wai)殼。
測(ce)試流(liu)程:
1.4.1.
磨(mo)擦測(ce)試
(Abrasion Test -RCA)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:印(yin)刷
/
噴(pen)塗抗(kang)摩擦(ca)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):将最(zui)終噴(pen)樣品(pin)塗固(gu)定在(zai)
RCA
試驗(yan)機上(shang),用
115g
力(li)隊同(tong)一點(dian)進行(hang)摩擦(ca)試驗(yan)。每隔(ge)
50
次檢(jian)查樣(yang)品的(de)表面(mian)噴塗(tu)。對于(yu)表面(mian)摩擦(ca)
300cycles
,側棱(leng)摩擦(ca)
150 Cycles
。特殊(shu)形狀(zhuang)的手(shou)機摩(mo)擦點(dian)的确(que)定由(you)測試(shi)工程(cheng)師和(he)🌈設☎️計(ji)工程(cheng)師💁共(gong)同确(que)定。
檢(jian)驗标(biao)準:耐(nai)磨點(dian)塗層(ceng)不能(neng)脫落(luo),不可(ke)露出(chu)底材(cai)質㊙️地(di)✍️
(
對于(yu)噴塗(tu)、電鍍(du)、
IMD);
圖案(an)或字(zi)體不(bu)能缺(que)損、不(bu)清晰(xi)
(
對于(yu)絲印(yin)、按鍵(jian)
)
。
1.4.2.
附着(zhe)力測(ce)試
(CoatingAdhesion Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:噴(pen)塗附(fu)着力(li)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):選最(zui)終噴(pen)塗的(de)手機(ji)外殼(ke)表面(mian),使用(yong)百格(ge)刀刻(ke)出
100
個(ge)
1
平方(fang)毫米(mi)的方(fang)格,劃(hua)格的(de)深度(du)以露(lu)出底(di)材爲(wei)止,再(zai)♍用
3M610
号(hao)膠帶(dai)紙用(yong)力粘(zhan)貼在(zai)方格(ge)面,
1
分(fen)鍾後(hou)迅速(su)以
90
度(du)的角(jiao)度撕(si)脫
3
次(ci),檢查(cha)方格(ge)面油(you)漆是(shi)否有(you)脫落(luo)。
檢驗(yan)标準(zhun):方格(ge)面油(you)漆脫(tuo)落應(ying)小于(yu)
3%
,并且(qie)沒有(you)滿格(ge)脫落(luo)。
1.4.3.
汗液(ye)測試(shi)
(PerspirationTest)
測試(shi)環境(jing):
60 oC
,
95%RH
測試(shi)目的(de):表面(mian)抗汗(han)液腐(fu)蝕能(neng)力
試(shi)驗方(fang)法:把(ba)濾紙(zhi)放于(yu)酸性(xing)
(PH=2.6)
溶液(ye)充分(fen)浸透(tou),用膠(jiao)帶将(jiang)浸有(you)酸性(xing)溶液(ye)的濾(lü)紙粘(zhan)⚽在樣(yang)👈品🤩噴(pen)漆表(biao)面,确(que)保試(shi)紙與(yu)樣品(pin)噴漆(qi)表面(mian)充分(fen)接觸(chu),然後(hou)放在(zai)測試(shi)環境(jing)中,在(zai)
24
小時(shi)檢查(cha)一次(ci),
48
小時(shi)後,将(jiang)樣品(pin)從測(ce)試環(huan)境中(zhong)取出(chu),并且(qie)放置(zhi)
2
小時(shi)後,檢(jian)查樣(yang)品表(biao)面噴(pen)漆。
檢(jian)驗标(biao)準:噴(pen)漆表(biao)面無(wu)變色(se)、起皮(pi)、脫落(luo)、褪色(se)等異(yi)常。
1.4.4.
硬(ying)度測(ce)試
(Hardness Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:表(biao)面噴(pen)塗硬(ying)度測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:用(yong)
2H
鉛筆(bi),在
45
度(du)角下(xia),以
1Kg
的(de)力度(du)在樣(yang)品表(biao)面從(cong)不同(tong)的方(fang)向劃(hua)出
3~5cm
長(zhang)的線(xian)條
3~5
條(tiao)。
檢驗(yan)标準(zhun):用橡(xiang)皮擦(ca)去鉛(qian)筆痕(hen)迹後(hou),在油(you)漆表(biao)面應(ying)不留(liu)下劃(hua)痕。
1.4.5.
鏡(jing)面摩(mo)擦測(ce)試
(Lens ScratchTest)
測(ce)試環(huan)境
:
室(shi)溫
(20~25
°
C);
測(ce)試目(mu)的:鏡(jing)面抗(kang)劃傷(shang)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):用
Scratch Tester
将(jiang)實驗(yan)樣品(pin)固定(ding)在實(shi)驗機(ji)上,用(yong)載重(zhong)
(load)
爲
500g
的(de)力在(zai)樣品(pin)表面(mian)往複(fu)劃傷(shang)
50
次。
檢(jian)驗标(biao)準:鏡(jing)面表(biao)面劃(hua)傷寬(kuan)度應(ying)不大(da)于
100
μ
m(
依(yi)靠目(mu)視分(fen)辨、參(can)照缺(que)陷限(xian)度樣(yang)闆
)
1.4.6
紫(zi)外線(xian)照射(she)測試(shi)
(UV illuminantTest)
測試(shi)環境(jing):
50
°
C
測試(shi)目的(de):噴塗(tu)抗紫(zi)外線(xian)照射(she)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):在溫(wen)度爲(wei)
50
°
C
,紫外(wai)線爲(wei)
340W/mm2
的光(guang)線下(xia)直射(she)油漆(qi)表面(mian)
48
小時(shi)。試驗(yan)結束(shu)後将(jiang)手機(ji)外殼(ke)取出(chu),在常(chang)溫下(xia)冷卻(que)
2
小時(shi)後檢(jian)查噴(pen)漆表(biao)面。
檢(jian)驗标(biao)準:油(you)漆表(biao)面應(ying)無褪(tui)色,變(bian)色,紋(wen)路,開(kai)裂,剝(bao)落等(deng)現象(xiang)。
1.5.1.
低溫(wen)跌落(luo)試驗(yan)
(Low temperatureDrop Test)
測試(shi)環境(jing):
-10
°
C
樣機(ji)數量(liang)
: 3
台
測(ce)試目(mu)的:樣(yang)機低(di)溫跌(die)落測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)手機(ji)進行(hang)電性(xing)能參(can)數測(ce)試後(hou)處于(yu)開機(ji)狀态(tai)放置(zhi)在
-10
°
C
的(de)低溫(wen)試驗(yan)箱内(nei)
1
小時(shi)後取(qu)出,進(jin)行
1.2
米(mi)的
6
個(ge)面跌(die)落,
2
個(ge)循環(huan),要求(qiu)
3
分鍾(zhong)内完(wan)成跌(die)落,方(fang)法同(tong)常溫(wen)跌落(luo)。
檢驗(yan)标準(zhun):手機(ji)外觀(guan),結構(gou),功能(neng)和電(dian)性能(neng)參數(shu)符合(he)要求(qiu)。
1.5.2.
扭曲(qu)測試(shi)
(Twist Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
樣機(ji)數量(liang)
: 2
台
測(ce)試目(mu)的:抗(kang)扭曲(qu)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機處(chu)于開(kai)機狀(zhuang)态,固(gu)定在(zai)扭曲(qu)試驗(yan)機上(shang)⛷️,用🛀🏻
2N m
力(li)矩反(fan)複扭(niu)曲手(shou)機
1000
次(ci)。對于(yu)滑蓋(gai)手機(ji),應将(jiang)一半(ban)樣品(pin)滑開(kai)到上(shang)限位(wei)置。
檢(jian)驗标(biao)準:手(shou)機沒(mei)有變(bian)形
,
外(wai)觀無(wu)異常(chang),各項(xiang)功能(neng)正常(chang)。
1.5.3.
坐壓(ya)測試(shi)
(Squeeze Test)
測試(shi)環境(jing):室溫(wen)
(20~25
°
C);
樣機(ji)數量(liang)
: 2
台
測(ce)試目(mu)的:抗(kang)坐壓(ya)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機處(chu)于開(kai)機狀(zhuang)态,放(fang)置在(zai)坐壓(ya)試驗(yan)機上(shang),用🌈
45Kg
力(li)反複(fu)擠壓(ya)手機(ji)
1000
次。
對(dui)于滑(hua)蓋手(shou)機,應(ying)将一(yi)半樣(yang)品滑(hua)開到(dao)上限(xian)位置(zhi)。
檢驗(yan)标準(zhun):手機(ji)沒有(you)變形(xing)
,
外觀(guan)無異(yi)常,各(ge)項功(gong)能正(zheng)常。
1.5.4.
鋼(gang)球跌(die)落測(ce)試
(Ball Drop Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);100g
鋼(gang)球。
樣(yang)機數(shu)量
: 2
台(tai)
測試(shi)目的(de):鏡蓋(gai)強度(du)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):鏡蓋(gai)表面(mian):用
100g
鋼(gang)球,從(cong)
20cm
高處(chu),以初(chu)速度(du)爲
0
的(de)狀态(tai),垂直(zhi)打擊(ji)鏡蓋(gai)表面(mian)。
檢驗(yan)标準(zhun):手機(ji)鏡蓋(gai)無變(bian)形,無(wu)裂縫(feng),無破(po)損
(
允(yun)許有(you)白點(dian)
)
,
LCD
功能(neng)正常(chang)。
1.6
其他(ta)條件(jian)測試(shi)
樣品(pin)标準(zhun)數量(liang):
5
台。
測(ce)試周(zhou)期:
1
天(tian)。
測試(shi)流程(cheng)
:
測試(shi)标準(zhun):
1.6.1
螺釘(ding)的測(ce)試
(Screw Test)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
樣(yang)機數(shu)量
: 3
台(tai)
測試(shi)目的(de):螺釘(ding)拆裝(zhuang)疲勞(lao)測試(shi)
試驗(yan)方法(fa):将手(shou)機平(ping)放在(zai)試驗(yan)台上(shang)用允(yun)許的(de)最大(da)扭矩(ju)
(
由設(she)計工(gong)程師(shi)和生(sheng)産工(gong)程師(shi)提供(gong)
),
對同(tong)一螺(luo)釘在(zai)同一(yi)位置(zhi)反複(fu)旋動(dong)螺釘(ding)
10
次
.
檢(jian)驗标(biao)準:試(shi)驗中(zhong)和完(wan)成後(hou)
,
螺紋(wen)沒有(you)變形(xing)
,
損壞(huai)
,
滑絲(si)
,
用肉(rou)眼觀(guan)察沒(mei)有裂(lie)紋
; INSERT
不(bu)能有(you)明顯(xian)的松(song)動
,
劃(hua)絲
;
螺(luo)釘口(kou)
(
包括(kuo)機械(xie)和自(zi)攻螺(luo)釘
)
不(bu)能有(you)明顯(xian)的松(song)動
,
劃(hua)絲
1.6.2
挂(gua)繩孔(kong)強度(du)的測(ce)試
(Hand StrapTest)
測(ce)試環(huan)境:室(shi)溫
(20~25
°
C);
樣(yang)機數(shu)量
: 2
台(tai)
測試(shi)目的(de):挂繩(sheng)孔結(jie)構強(qiang)度測(ce)試
試(shi)驗方(fang)法:将(jiang)挂繩(sheng)穿過(guo)挂繩(sheng)孔并(bing)以
2
圈(quan)
/
秒的(de)速率(lü)在垂(chui)直的(de)平面(mian)内轉(zhuan)動
100
圈(quan)
,
然後(hou)用拉(la)力計(ji)以持(chi)續不(bu)斷的(de)力拉(la)手機(ji)的挂(gua)繩
.
檢(jian)驗标(biao)準:手(shou)機的(de)挂繩(sheng)能容(rong)易的(de)穿過(guo)挂繩(sheng)孔
(
不(bu)借助(zhu)于特(te)殊的(de)工具(ju)
);
轉動(dong)手機(ji)時
,
挂(gua)繩
孔(kong)不能(neng)被損(sun)壞
;
挂(gua)繩孔(kong)的破(po)壞力(li)不能(neng)小于(yu)
12kgf(111N)
可靠(kao)性是(shi)指産(chan)品在(zai)規定(ding)的條(tiao)件下(xia)、在規(gui)定的(de)時間(jian)内完(wan)成規(gui)定的(de)功能(neng)的能(neng)力。産(chan)品在(zai)設計(ji)、應用(yong)過程(cheng)中,不(bu)斷經(jing)受自(zi)💁身及(ji)外界(jie)氣候(hou)環境(jing)及機(ji)械環(huan)境的(de)影響(xiang),而仍(reng)需要(yao)能夠(gou)正常(chang)工作(zuo),這就(jiu)需要(yao)以試(shi)驗設(she)備對(dui)其進(jin)行驗(yan)證,這(zhe)個驗(yan)證基(ji)💜本分(fen)爲研(yan)發試(shi)驗、試(shi)産試(shi)驗、量(liang)産抽(chou)檢三(san)個部(bu)分。
1
、其(qi)中氣(qi)候環(huan)境包(bao)含:高(gao)溫、低(di)溫、高(gao)低溫(wen)交變(bian)、高溫(wen)高濕(shi)、低溫(wen)低濕(shi)、快速(su)溫度(du)變化(hua)、溫度(du)沖擊(ji)、高壓(ya)蒸煮(zhu)
(HAST)
、溫升(sheng)測試(shi)、鹽霧(wu)腐蝕(shi)
(
中性(xing)鹽霧(wu)、銅加(jia)速乙(yi)酸、交(jiao)變鹽(yan)霧
)
、人(ren)工汗(han)液、氣(qi)體腐(fu)蝕
(SO2/H2S/HO2/CL2)
、耐(nai)焊接(jie)熱,沾(zhan)錫性(xing),防塵(chen)等級(ji)測試(shi)
(IP1X-6X)
,防水(shui)等級(ji)測試(shi)
(IPX1-X8)
、阻燃(ran)測試(shi),
UV
老化(hua)
(
熒光(guang)紫外(wai)燈
)
、太(tai)陽輻(fu)射
(
氙(xian)燈老(lao)化、鹵(lu)素燈(deng)
)
等等(deng)
;
2
、其中(zhong)機械(xie)環境(jing)包含(han):振動(dong)
(
随機(ji)振動(dong),正弦(xian)振動(dong)
)
、機械(xie)沖擊(ji)、機械(xie)碰撞(zhuang)、跌落(luo)、斜面(mian)沖擊(ji),溫濕(shi)度
振(zhen)動三(san)綜合(he)、高加(jia)速壽(shou)命測(ce)試
(HALT)
、高(gao)加速(su)應力(li)篩選(xuan)
(HASS
、
HASA)
、插拔(ba)力,保(bao)持力(li),插拔(ba)壽命(ming),按鍵(jian)壽命(ming)測試(shi)、搖擺(bai)試驗(yan)、耐磨(mo)測🍉試(shi)、附着(zhe)力測(ce)試、百(bai)格測(ce)試等(deng)。
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